低本底高灵敏度Sm-Nd同位素分析方法对石榴子石Sm-Nd定年、陨石Sm-Nd年代学及地球化学、高度亏损超镁铁岩Sm-Nd同位素研究以及环境样品Sm-Nd同位素地球化学研究等领域具有重要的意义。

中国科学院地质与地球物理研究所科技支撑系统储著银副研究员及其合作者，利用固体同位素实验室IsoProbe-T质谱计，采用W灯丝和TaF5发射剂的涂样技术建立了一种新的高灵敏度Sm-Nd同位素分析方法。W灯丝和TaF5发射剂涂样技术通常被应用于低含量样品或微量样品的Sr同位素高精度分析，储著银等首次将该涂样技术应用于Sm-Nd同位素分析。其中，Nd同位素采用测定NdO+离子的方法进行测定，较传统的采用Re带＋硅胶＋磷酸的涂样技术的NdO+测定方法具有更高的离子发射效率及更稳定的离子流发射，同时不需要给离子源加氧；Sm同位素采用测定Sm+离子的方法进行测定，较传统的Re带点样方法，灵敏度和离子流稳定性均有大幅度的提高。采用该方法可对低至0.5-1ng的Nd获得高精度（内部精度可达<10ppm）的同位素分析数据，可对低于0.2ng的Sm获得精确的同位素稀释分析结果。结合低本底的Sm-Nd同位素化学分离流程，可对低含量或微量地质样品进行高精度的Sm-Nd同位素分析。

该分析方法最近已发表于国际著名的分析化学刊物《分析原子光谱学杂志》（Journal of Analytical Atomic Spectrometry）（2008IF: 4.03）（Chu et al. Precise determination of Sm, Nd concentrations and Nd isotopic compositions at the nanogram level in geological samples by thermal ionization mass spectrometry. Journal of Analytical Atomic Spectrometry，2009, 24: 1534-1544）。该方法的建立将为超镁铁岩Sm-Nd同位素研究、石榴子石Sm-Nd定年、陨石Sm-Nd同位素研究及古海水Sm-Nd同位素研究等提供新的研究手段。